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来源:yiyi
时间:2017-7-1 20:47:50

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EOS失效分析——选择正确的工具

    失效分析过程的一个关键决策是选择正确的工具来找到失效的
可视特征。以下是一些必须做的重要选择:
    ·使用有损还是无损失效分析技术?
    ·失效发生在底盘、印制电路板还是器件上?
    ·发生失效的器件的特征尺寸是多少?
    ·提供了最多信息的是哪一种工具?
    ·有多少时间来进行失效分析?
    ·工具可靠性和时间表是什么?
    使用有损还是无损技术取决于失效的位置和损伤的物理尺寸大
小。失效在系统中的位置会影响工具的选择。
    鉴于在半导体器件发生故障时,选择的工具可能会取决于器件
的特征尺寸大小。有些工具可以提供更多的信息,但需要更多的工
作和时间。因此,有些失效分析过程达到实际失效分析时间、样品
准备时间及工具信息获取和使用时间等时间极限。工具的选取是工
具技术、工具所能带来的信息和工具实际可用性之间的一个平衡及
取舍。

无损测试失效分析可以保持EOS故障现场,不破坏原样品。对于同一样品
允许应用多种技术。可以使用以下无损检测:
    ·光学检测;
    ·超声www.w88981.com,优德官方网站检测;
    ·X射线检测;
    ·电气测量。
    对于外部光学检测,可以看到很多观测点:
    ·封装成型损伤;
    ·引线损伤;
    ·异质材料;
    ·开裂;
    ·塑封变色;
    ·腐蚀损伤;
    ·2.5一D系统线绑定;
    ·半导体芯片间3一D系统的封装分层。
    超声www.w88981.com,优德官方网站检查使用了声呐。超声www.w88981.com,优德官方网站可以用来观察与EOS相关的塑料
分层和封装的芯片分离。可以看到:
    ·顶部芯片分离;
    ·浆料损伤;
    ·引线进水;
    ·热空孔和电气空孔;
    ·水腔(会导致腐蚀和封装“爆米花”式的破裂)。
    x射线检测以观察EOS诱发的绑定线不完整、引线结构受损和芯片分离。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制)

  
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